汎銓提告光焱侵害矽光子專利權 求償2億元

台灣民眾電子報/2026-03-25 /記者黃蕙蘭

 

圖說：汎銓董事長柳紀綸表示，為維護股東與利害關係人權益，及考量台灣科技產業整體價值下，選擇採取法律行動。（記者黃蕙蘭/攝）

 

AI晶片研發分析平台汎銓科技（6830）今（25）日正式向智慧財產及商業法院提起專利侵權訴訟，控告光焱科技（7728）涉及侵害其中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並請求排除侵權及求償新台幣2億元。此案亦被視為台灣首宗針對「矽光子檢測設備」提出的專利訴訟，備受半導體與AI產業高度關注。

 

汎銓董事長柳紀綸強調，此次提告是公司捍衛核心技術的具體行動。公司相關專利已完成台灣、日本及美國三地布局，未來不僅針對國內市場，若國際業者涉及侵權，「即使對方再大，也一定提告」，展現全面防衛技術資產的決心。

 

柳紀綸指出，矽光子技術正隨AI資料中心與高速運算需求快速崛起，而在整體矽光子失效分析流程中，「光損定位」是最關鍵的第一步。不同於傳統電子IC可直接檢測缺陷，光學IC需透過專門技術找出光損位置，否則後續分析將無從進行，而汎銓的「光損偵測裝置」正是解決此一痛點的核心技術。

 

汎銓進一步說明，該專利核心涵蓋IROM、IRCCD等關鍵技術，除已在台灣與日本取得發明專利外，近期亦成功取得美國發明專利，完成全球重要市場布局。過去同業曾提出17項舉證申請試圖撤銷專利，但最終均遭駁回，顯示專利具備高度穩固性與技術門檻。

 

在技術實力方面，汎銓表示，公司早在6年前即完成相關技術開發並導入客戶應用，目前已建置多套矽光子量測分析設備，並長期服務大型客戶，美國AI業者亦已進駐公司進行相關測試作業。公司強調，其設備在光學靈敏度與定位準確度上優於同業，可有效解決產業長期無法精準定位光損的問題，並累積深厚的學習曲線優勢。

 

圖說：汎銓提告光焱科技矽光子專利侵權 ，捍衛台灣科技產業核心價值。（記者黃蕙蘭/攝）

 

針對本次提告，汎銓指出，為避免侵權行為持續擴大，甚至衍生技術與機密外洩等更重大風險，公司在維護股東與利害關係人權益，以及考量台灣科技產業整體價值下，選擇採取法律行動，訴請法院判令相關被告立即停止侵權，並提出損害賠償2億元。同時，公司亦表示將持續蒐證，未來若發現其他相關人士涉案，不排除擴大法律行動。

 

汎銓強調，台灣半導體產業素有「護國群山」之稱，若關鍵技術遭侵害甚至外流，恐對國家產業競爭力造成衝擊，因此本案不僅是企業維權，更具產業層級意義。

 

從市場布局來看，汎銓正由既有的材料分析與故障分析服務，進一步延伸至設備製造與銷售，打造「分析服務＋設備銷售」的雙軌營運模式。公司規劃推出矽光子量產檢測設備「MSS HG」，預計今年10月完成首台設備，並於年底前舉辦產品發表會，單台設備價格依配置不同約落在新台幣5,000萬元至1億元。

 

汎銓指出，潛在客戶涵蓋晶圓廠、大型AI公司、矽光子設計公司及測試廠，隨著PIC（光子積體電路）設計需求提升，市場對矽光子檢測設備的需求將逐步升溫。公司並看好，相關設備市場有望於明年進入快速成長期。

 

柳紀綸表示，汎銓掌握矽光子分析流程的關鍵入口，未來將結合設備銷售與後續材料分析服務，提升客戶黏著度與整體價值。隨著AI、高速運算及先進封裝需求持續擴大，矽光子技術被視為下一世代高頻寬、低功耗資料傳輸的核心解方，汎銓亦將持續深化技術與專利布局，鞏固市場領先地位。